精密加工品を組み立てるためのタップ孔を複数箇所に開けるような製品を作る際、それぞれのタップ孔の間隔に対して寸法公差が指定されている場合があります。しかし、タップ孔はらせん形状であるため、測定点を決めることが難しいです。そのため、タップ孔の寸法公差の測定は難しく検査時間が多くかかってしまいます。

タップ孔は通常クリアランスが大きいため、寸法公差の測定を行うには時間が掛かってしまいます。そこで、タップ孔にかかっている寸法公差を一般公差に緩和することで、測定時間を短縮することができます。仕様上問題が無ければ、寸法公差を取り除くことでリードタイム短縮によるコストダウンを実現させることができます。